Учебное пособие для вузов. — 3-е изд. доп. и перераб. — М.: МИСиС, 1994. — 328 с. В пособии описаны экспериментальные и расчетные методики решения задач по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электронной микроскопии, анализу дефектов кристаллического строения, качественному и количественному фазовому анализу, текстурному анализу и спектроскопии, анализу пленочных...